Comprar SN74ABT18640DGGR com BYCHPS
Compre com garantia
SN74ABT18640DGGR
- Modelo do Produto:
- SN74ABT18640DGGR
- Fabricante:
- Descrição:
- IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
- Status sem chumbo / Status RoHS:
- Sem chumbo / acordo com RoHS
- Quantidade disponível:
- 17579 Pieces
- Ficha de dados:
- SN74ABT18640DGGR.pdf
Introdução
BYCHIPS é o distribuidor de estocagem para SN74ABT18640DGGR, temos as ações para envio imediato e também disponível para fornecimento de longo tempo. Por favor envie-nos o seu plano de compra para SN74ABT18640DGGR por e-mail, nós lhe daremos o melhor preço de acordo com o seu plano.
Especificações
| Tensão de alimentação: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Embalagem do dispositivo fornecedor: | 56-TSSOP |
| Série: | 74ABT |
| Embalagem: | Tape & Reel (TR) |
| Caixa / Gabinete: | 56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
| Outros nomes: | 296-3941-2 |
| Temperatura de operação: | -40°C ~ 85°C |
| Número de bits: | 18 |
| Tipo de montagem: | Surface Mount |
| Nível de Sensibilidade à Humidade (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Número de peça do fabricante: | SN74ABT18640DGGR |
| Tipo de lógica: | Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers |
| Descrição expandida: | Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers IC 56-TSSOP |
| Descrição: | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP |
| Email: | [email protected] |
Peças relacionadas para SN74ABT18640DGGR
| Imagem | Modelo do Produto | Fabricantes | Descrição | Visão |
|---|---|---|---|---|
|
SN74ABT18640DLRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | inquérito |
|
SN74ABT18504PMR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | inquérito |
|
SN74ABT18646PM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | inquérito |
|
SN74ABT18504PMRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | inquérito |
|
SN74ABT18640DLR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | inquérito |
|
SN74ABT18504PMG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | inquérito |
|
SN74ABT18652PM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | inquérito |
|
SN74ABT18245ADL | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | inquérito |
|
SN74ABT18640DL | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | inquérito |
|
SN74ABT18245ADGGR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP | inquérito |
Latest Notícias
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI to reduce costs in Wireless business; OMAP™ processors and wireless connectivity solutions will focus on embedded markets
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers